|
November 2008
De nieuwe X-MET5100 röntgen fluorescentie (XRF) metaal analyser brengt de analytische prestaties van draagbare analyse apparatuur tot een kompleet nieuwe hoogte. X-MET5100 combineert Oxford’ Instruments baanbrekende Silicon Drift Detector (SDD) tezamen met een krachtige 45kV röntgenbuis. Deze baanbrekende technologie zorgt voor een snelle, zeer nauwkeurige meting en maakt het mogelijk om lichte elementen zoals magnesium, aluminium, silicium, fosfor en zwavel te meten zonder een ingewikkelde vacuümpomp of helium gasfles - een enorme stap voorwaarts voor de draagbare röntgen fluorescentie analyse.
QC / PMI inspecteurs, schroot sorteerders, inspectiefirma's en de luchtvaartindustrie kunnen nu eindelijk beschikken over een draagbaar XRF analyser waarmee ook lichte elementen te meten zijn. De X-MET5100 levert nagenoeg laboratorium kwaliteit voor aluminium en titanium legeringen, als ook koper, nikkel en staal met de ongeëvenaarde Light Element (LET) mogelijkheid en nauwkeurigheid. De krachtige combinatie van de SDD, 45kV röntgenbuis en traceerbare empirische kalibratie zorgt ervoor dat de X-MET5100 binnen één seconde metaallegeringen nauwkeurig analyseert en identificeert.
Begrensde elementen (RoHS) in zowel metaal als kunststof en elektronica, lood in speelgoed, vervuiling van de bodem of kleine concentraties in ertsen kunnen nauwkeurig gemeten worden met een snelheid welke tot voor kort niet voor mogelijk werd gehouden. De ongeëvenaarde snelheid en nauwkeurigheid van de X-MET5100 staan garant voor zeer betrouwbare en reproduceerbare resultaten bij een hoge productie.
De X-MET5100 maakt de toch al succesvolle X-MET5000 serie voor routine multi-element analyse van Oxford Instruments kompleet. Beide apparaten zijn zeer robuust, IP54 (NEMA 3) gecertificeerd en zijn bestand tegen stof en spatwater en kunnen worden gebruikt in de meest ongunstige meet omstandigheden |
